GNR TX 2000.

TXRF和EDXRF在一个设备中爱游戏ayx娱乐城

TX 2000是使用总反射X射线荧光原理(TXRF)的定量多元素痕量分析的技术多元素痕量分析的状态。

我们该怎样帮助你?

描述

TX 2000配备了自动主光束切换系统(Moka,WLA / LB和Bremsstrahlung 33 Kev),硅漂移检测器和高功率X射线管是环境化学品和核田中应用的最佳解决方案。

TXRF基于传统X射线荧光(XRF)的相同原理,最小化或完全消除基质效应,允许Simoultaneius多元素超痕量分析,并将仪器检测限压下来从钠到钚的PPB系列。

TX 2000主要功能

  • TXRF和EDXRF(传统的45°几何)光谱在同一设备中。爱游戏ayx娱乐城
  • 具有光学编码器的步进电机可确保极其精确的角度值。
  • 基于创新软件,使用双阳极MO / W X射线管自动切换主光束(MOKA,WLA / LB和BREMSSTRAHLUNG 33 KEV)。我们选择使用高反射率80%(WLA / LB / MOKA)多层所需的能量。我们还可以选择其他X射线管,并单色您需要的能量。
  • Peltier冷却的硅漂移探测器,能量分辨率为124EV[电子邮件受保护](成形时间1 ms)
  • 样品和检测器之间的最小距离(安装到正常到样品平面的轴线)。
  • 仪器检测限度超过50个元素,低于10 pg。
  • 氦气装置改善光元件的检测限。
  • 宽范围元素的优异检测限制(PPT)
  • 没有矩阵效应

OES维护和校准:
为什么它很重要,它将如何节省您的钱

定期维护(PM)和校准是您定期需要进行的基本任务,以确保您的设备继续按预期运行。爱游戏ayx娱乐城

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